複習題 一、名詞解釋 1、系統消光: 把由于FHKL=0而使衍射線有規律消失的現象稱為系統消光。 2、X射線衍射方向: 是兩種相幹波的光程差是波長整數倍的方向。 3、Moseley定律：對于一定線性系的某條譜線而言其波長與原子序數平方近似成反比關系。 4、相對強度：同一衍射圖中各個衍射線的絕對強度的比值。 5、積分強度：扣除背影強度後衍射峰下的累積強度。 6、明場像 暗場像：用物鏡光欄擋去衍射束，讓透射束成像，有衍射的為暗像，無衍射的為明像，這樣形成的為明場像；用物鏡光欄擋去透射束和及其餘衍射束，讓一束強衍射束成像，則無衍射的為暗像，有衍射的為明像，這樣形成的為暗場像。 7、透射電鏡點分辨率、線分辨率：點分辨率表示電鏡所能分辨的兩個點之間的最小距離；線分辨率表示電鏡所能分辨的兩條線之間的最小距離。 8、厚度襯度:由于試樣各部分的密度(或原子序數)和厚度不同形成的透射強度的差異； 9、衍射襯度：由于晶體薄膜内各部分滿足衍射條件的程度不同形成的衍射強度的差異； 10相位襯度：入射電子收到試樣原子散射，得到透射波和散射波，兩者振幅接近，強度差很小，兩者之間引入相位差，使得透射波和合成波振幅産生較大差異，從而産生襯度。 11像差：從物面上一點散射出的電子束，不一定全部聚焦在一點，或者物面上的各點并不按比例成像于同一平面，結果圖像模糊不清，或者原物的幾何形狀不完全相似，這種現象稱為像差 球差：由于電磁透鏡磁場的近軸區和遠軸區對電子束的彙聚能力不同造成的 像散：由于透鏡磁場不是理想的旋轉對稱磁場而引起的像差 色差：由于成像電子的波長（或能量）不同而引起的一種像差 12、透鏡景深：在不影響透鏡成像分辨本領的前提下，物平面可沿透鏡軸移動的距離 13、透鏡焦深：在不影響透鏡成像分辨本領的前提下，像平面可沿透鏡軸移動的距離 14、電子衍射 ：電子衍射是指當一定能量的電子束落到晶體上時，被晶體中原子散射，各散射電子波之間産生互相幹涉現象。它滿足勞厄方程或布拉格方程，并滿足電子衍射的基本公式Lλ=Rd L是相機長度，λ為入射電子束波長，R是透射斑點與衍射斑點間的距離。 15、二次電子：二次電子是指在入射電子作用下被轟擊出來并離開樣品表面的原子的核外電子。

16、背散射電子：背散射電子是指入射電子與試樣的相互作用經多次散射後，重新逸出試樣表面的電子。

17、差熱分析：是指在程序控制溫度下，測量物質和參比物的溫度差與溫度或時間關系的一種方法。

18、差示掃描量熱法：是指在程序控制溫度下，試樣和參比物的溫度差保持為零時，所需要的能量對溫度或時間關系的一種技術。

19、熱重分析：在程序控制溫度下，測定試樣的質量變化對溫度或時間關系的一種方法。

20、綜合熱分析：将DTA、DSC、TG等各種單功能的熱分析相互組裝在一起，就可以變成多功能的綜合熱分析。

21、外推始點溫度：曲線開始偏離基線那點的切線與曲線最大斜率切線的交點。

22、拉曼效應：散射光中散射強度中約有1%的光頻率與入射光束的頻率不同。除在入射光頻率處有一強的瑞利散射線外，在它的較高和較低頻率處還有比它弱得多的譜線。

23、拉曼位移：拉曼散射光與入射光頻率之差。

24、瑞利散射：如果光子與樣品分子發生彈性碰撞，即光子與分子之間沒有能量交換，則光子的能量保持不變，散射光的頻率與入射光頻率相同，隻是光子的方向發生改變，此即彈性散射，通常叫瑞利散射。

編輯

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25、化學位移：由于原子所處的化學環境不同而引起的原子内殼層電子結合能的變化，在譜圖上表現為譜線的位移，這種現象成為化學位移。

26、光電效應：當具有一定能量hv的入射光子與樣品的原子互相作用時，單個光子把全部能量交換給原子某殼層上一個受束縛的電子，這個電子就獲得能量。如果該能量大于該電子的結合能Eb，該電子就将脫離原來受束縛的能級；若還有多餘的能量可以使電子克服功函數W，則電子就成為自由電子、并獲得一定的動能Ek并且hv=Eb Ek W。該過程為光電效應。

27、荷電效應：X射線射向樣品，表面不斷産生光子，造成表面電子空穴，使樣品帶正電，如果樣品是絕緣體或者半導體，表面電子空穴無法從金屬試樣中得到補充，使得樣品表面帶正電，這叫做荷電效應。

28、定點分析：對試樣某一選定點進行成分定性或定量的分析，以确定該點區域内存在的元素及其含量。

線掃描分析：使聚焦電子束在試樣觀察區内沿一選定直線進行慢掃描，得到反映該元素含量變化的特征X射線強度沿試樣掃描線的分布。

面掃描分析：電子束在樣品表面作光栅掃描時，得到該元素的面分布圖像。

二、簡答題

1、X射線譜有哪兩種基本類型？各自的含義是什麼？

兩種類型：連續X射線譜和特征X射線譜 連續X射線譜： 指X射線管中發出的一部分包含各種波長的光的光譜。從管中釋放的電子與陽極碰撞的時間和條件各不相同，絕大多數電子要經曆多次碰撞，産生能量各不相同的輻射，因此出現連續X射線譜

特征X射線譜：也稱标識X射線譜，它是由若幹特定波長而強度很大的譜線構成的，這種譜線隻有當管電壓超過一定數值Vk(激發電壓)時才能産生，而這種譜線的波長與X射線管的管電壓、管電流等工作條件無關，隻取決于陽極材料，不同金屬制成的陽極将發出不同波長的譜線，并稱為特征X射線譜

2、X射線是怎麼産生的？連續X射線譜有何特點？

熱陰極上的燈絲被通電加熱至高溫時，産生大量的熱電子，這些電子在陰陽極間的高壓作用下被加速，以極快速度撞向陽極，由于電子的運動突然受阻，其動能部分轉變為輻射能，以X射線的形式放出，産生X射線。

連續X射線譜：具有從某一個最短波長（短波極限）開始的連續的各種波長的X射線。它的強度随管電壓V、管電流i和陽極材料原子序數Z的變化而變化。

3、3.何謂Kα射線？何謂Kβ射線？這兩種射線中哪種射線強度大？哪種射線波長短？X射線衍射用的是哪種射線？為什麼Kα射線中包含Kα1和Kα2？

Kα是L殼層中的電子跳入K層空位時發出的X射線，Kβ射線是M殼層中的電子跳入K層空位時發出的X射線；Kα比Kβ強度大，因為L層電子跳入K層空位的幾率比M層電子跳入K層空位的幾率大；Kβ波長短；X射線衍射用的是Kα射線；Kα射線是由Kα1和Kα2組成，它們分别是電子從L3和L2子能級跳入K層空位時産生的。

4、晶體對X射線的散射包括哪兩類？四種基本類型的空間點陣是什麼？

晶體對X射線的散射有相幹散射和不相幹散射。簡單立方、體心立方、面心立方、底心立方。

5、結構因子的概念

結構因子的絕對值為一個晶胞的想幹散射振幅與一個電子的想幹散射振幅的比值。結構因子隻與原子的種類，數目和在晶胞中的位置有關，而不受晶胞形狀和大小的影響。

6、布拉格方程的表達式、闡明的問題及所讨論的問題？

布拉格方程：2dsinθ=nλ

d為晶面間距，θ為入射束與反射面的夾角，λ為X射線的波長，n為衍射級數。

讨論：1、sinθ=nλ/2d 由 sinθ≤1,得到nλ≤2d，n最小值為1，因而λ≤2d。說明X射線的波長必須小于晶面間距的二倍，才能産生衍射現象;

2、由nλ≤2d，得到d≥λ/2，因而隻有那些晶面間距大于入射X射線波長一半的晶面才能發生衍射;(dhkl/n)*sinθ=λ，令dhkl/n=dHKL ，則2dHKLsinθ=λ，得到dHKL=dhkl/n，因而把(hkl)晶面的n級反射看成為與(hkl)晶面平行，面間距為dHKL=dhkl/n的晶面的一級反射。

3、 原子面對X射線的衍射并不是任意的，而是具有選擇性的。

4、 一種晶體結構對應獨特的衍射花樣。

7、晶體使X射線産生衍射的充分條件是什麼？何謂系統消光？

充分條件是同時滿足布拉格方程和FHKL≠0.系統消光：把由于FHKL=0而使衍射線有規律消失的現象稱為系統消光。

8、粉晶X射線衍射卡片（JCPDS或PDF卡片）檢索手冊的基本類型有哪幾種？

字母索引 ： 按物質英文名稱的字母順序

哈那瓦爾特索引 ： 8條強線按d值相對強度遞減順序排列

芬克索引 ：8條最強線以按d值遞減順序排列

9、在進行混合物相的X射線衍射線定性分析鑒定時，應特别注意優先考慮的問題有哪些？衍射儀用粉末試樣的粒度是多少？

（1）d值比相對強度更為重要，核對時d值必須相當符合，一般隻能在小數點後第二位有分歧；（2）重視小角度區域的衍射線，即低角度的d值比高角度的d值更重要；（3）強線比弱線重要；（4）特征線（即不與其它線重疊的線）重要；（5）結合其它信息，如成份、熱處理過程等等；（6）借助其它分析測試方法共同表征。優先考慮小角度區域的衍射線，強線及特征線。粉末粒度是10~40μm.

10、電子束與物質相互作用可以獲得哪些信息？

a,透射電子b,二次電子c,背散射電子d,特征X射線e,陰極熒光 f,俄歇電子 g,吸收電子

11、掃描電鏡的原理？掃描電鏡的放大倍數是如何定義的？

原理：電子槍發射電子，經會聚稱為微細電子束，在掃描線圈驅動下，在試樣表面掃描，于試樣相互作用，産生二次電子，二次電子信号被探測器收集轉換為電訊号，經視頻放大後，輸入到顯像管，得到反映試樣表面的二次電子像。

掃描電鏡的放大倍數：電子束在熒光屏上掃描振幅與入射電子束在樣品表面的掃描振幅之比

12、簡述電子透鏡像差及産生的原因？

a,球差——由于電磁透鏡近軸區和遠軸區對電子束彙聚能力不同引起。b,色差——由于成像電子波長不同引起。c,軸上像散——由于透鏡磁場不是理想旋轉對稱磁場引起。

d,畸變

13、透射電子顯微圖象包括哪幾種類型？

相位襯度、質厚襯度、衍射襯度

14、散射襯度與什麼因素有關？這種圖象主要用來觀察什麼？

散射襯度也稱為質厚襯度，它是指穿過樣品且散射角度小的那些電子即彈性散射所形成的襯度， 散射襯度與樣品的密度、原子序數、厚度等因素有關。

這種圖像主要用來觀察非晶試樣和複形膜樣品所成圖像。

15、衍射襯度與什麼因素有關？這種圖象主要用來觀察什麼？

衍射襯度是由晶體薄膜内各部分滿 足衍射條件的程度不同而形成的襯度。根據衍射襯度原理形成的電子圖像稱為衍射襯度像。

利用這種圖像可觀察晶體缺陷，如位錯、層錯等。

16、何謂明場象？何謂暗場象？中心暗場像與偏心暗場像哪個分辨率高？

明場象是指用物鏡光欄擋去衍射束，讓透射束成像，有衍射的為暗象，無衍射的為明象。

暗場像指用物鏡光欄擋去透射束及其餘衍射束，讓一束強衍射束成像，則無衍射的為暗像，有衍射的為明像。

因為偏心暗場像衍射束偏離光軸，暗場像朝一個方向拉長，分辨率低；中心暗場像無畸變，分辨率高。

17、何謂二次電子？掃描電鏡中二次電子象的襯度與什麼因素有關？最适宜研究什麼？

二次電子是指在入射電子作用下被轟擊出來并離開樣品表面的原子的核外電子，二次電子的襯度與兩個因素有關：

（1）入射電子的能量，入射電子能量在2-3KW時，二次電子發射系數達到最大，襯度明顯

（2）入射電子束在試樣表面的傾斜角度，因為δ（θ）=δ0/cosθ,當傾斜角度增加時，二次電子發射系數增大，襯度也明顯。二次電子像也最适宜觀察試樣的表面形貌。

18、何背散射電子？掃描電鏡中背散射電子象的襯度與什麼因素有關？最适宜研究什麼？

背散射電子是指入射電子與試樣的相互作用經多次散射後，重新逸出試樣表面的電子。背散射電子襯度與試樣的形貌及成分有關，因為背散射電子的産額随試樣原子序數的增大而增大，其來自試樣表面幾百納米的深度範圍。背散射電子襯度最适宜觀察試樣的平均原子序數兼形貌。

19、什麼是X射線的能譜分析和波譜分析？其方法有幾種？

用聚焦電子束照射在試樣表面待測微小區域上，激發試樣中諸元素的不同波長或能量的特征X射線，用X射線譜儀探測這些X射線，得到X射線譜，若利用特征X射線的波長不同來展譜，即為波譜分析，若利用特征X射線的能量不同來展譜，即為能譜譜分析。

分析方法：定點分析、線掃描分析、面掃描分析

20、在差熱分析曲線上一個峰谷的溫度主要用什麼來表征？哪個受實驗條件影響小？

主要用外推始點溫度和峰值溫度來表征。其中外推始點溫度受實驗條件影響小。

21、如何确定外推始點溫度及為何用外推始點作為DTA曲線的反應起始溫度？

曲線開始偏離基線那點的切線與曲線最大斜率的切線的交點。該交點是最接近熱力學的平衡溫度。

22、影響差熱曲線主要因素有哪些？

内因：晶體結構、陽離子電負性、離子半徑及電價、氫氧離子濃度。

外因：加熱速度、試樣形狀、稱量及裝填、氣氛和壓力、試樣粒度。

23、分子振動吸收紅外輻射必須滿足哪些條件？拉曼散射産生的條件？

紅外吸收：（1）振動頻率與紅外光譜段某頻率相等；（2）振動分子有偶極矩變化。

拉曼散射：（1）分子中某個基團的振動頻率與單色光頻率一緻（2）分子的極化率改變。

24、紅外吸收光譜的産生，主要是由于分子中什麼能級的躍遷？

振動或轉動能級

25、H2O和CO2分子中有幾種振動形式？紅外光譜分析步驟及石膏紅外譜圖分析？

H2O:對稱伸縮振動、非對稱伸縮振動、剪式彎曲振動

CO2:對稱伸縮振動、非對稱伸縮振動、彎曲振動

26、紅外光譜與拉曼光譜的比較？

相同點：兩光譜都屬于分子振動光譜

不同點：

1、兩光譜的光源不同：拉曼光譜用單色光很強的激光輻射，頻率在可見光範圍；紅外光譜用的是紅外光輻射源，波長大于1000nm的多色光

2、産生機理不同：拉曼光譜是分子對激光的散射，強度由分子極化率決定，其适用于研究同原子的非極性鍵振動，紅外光譜是分子對紅外光的吸收，強度由分子偶極矩決定，其适用于研究不同原子的極性鍵的振動。

3、光譜範圍不同：紅外光譜的範圍是4000-400cm-1,拉曼光譜的範圍是4000-40cm-1.拉曼光譜的範圍較紅外光譜範圍寬。

4、制樣、操作的不同：

a、在拉曼光譜分析中水可以作溶劑，但是紅外光譜分析中水不能作為溶劑。

b、拉曼光譜分析中樣品可盛于玻璃瓶，毛細管等容器中直接測定，但紅外光譜分析中不能用玻璃容器測定。

c、拉曼光譜分析中固體樣品可直接測定，但紅外光譜分析中固體樣品需要研磨制成KBr壓片。

27、X射線光電子能譜是一種什麼分析方法？采取剝離技術分析方法還可以進行什麼分析？

利用X射線光子激發原子的内層電子，産生光電子：不同元素的内層能級的電子結合能具有特定的值；通過測定這些特定的值可定性鑒定除H和He之外的全部元素；對峰的強度采用靈敏度因子法進行定量分析。

28、何為化學位移？化學位移規律？

由于原子所處化學環境不同而引起原子内殼層電子結合能的變化，在譜圖上表現為譜線的位移，該現象稱為化學位移。

規律：電負性越大，造成的化學位移就越大。

氧化态越高，造成的化學位移越大。

29、XPS伴線有哪些？并簡明說明之？

俄歇線、X射線衛星線、多重分裂線、振激振離線、能量損失線、鬼線

俄歇線：其産生有連個特征：與X射線源無關，改變X射線，俄歇線不變；俄歇線是以譜線群的形式出現的。

X射線衛星線：X射線的伴線能量比主線高，因此樣品XPS中光電子伴峰總是位于主峰的低結合能一端。

多重分裂線：多重分裂峰的相對強度等于終态的統計權重。

振激振離線：振離峰以平滑連續譜的形式出現在光電子主峰低動能的一邊，連續譜的高動能端有一陡限。振激峰也是出現在其低能端，比主峰高幾ev，并且一條光電子峰可能有幾條振激伴線。

能量損失線：随着X射線的波動而波動。

鬼線：不确定線

30、X射線光電子能譜分析常用的扣靜電（荷電效應）方法是什麼？

31、紅外與拉曼活性判斷規律？指出下列分子的振動方式哪些具有紅外活性，哪些具有拉曼活性。為什麼？

（1）O2 (2)H2 (3)H2O的對稱振動、非對陣振動和彎曲振動 （4）CO2的對稱振動、非對稱振動和彎曲振動

活性判斷規律：偶極矩變有紅外活性，反之沒有。極化率變有拉曼活性，反之沒有。有對稱中心的分子其分子振動對紅外和拉曼之一有活性，則另一非話性。無對稱中心的分子其分子振動對紅外和拉曼都是有活性的。

（1）O2 和H2分子的振動具有拉曼活性，因為其振動中并沒有偶極矩的變化，有極化率的變化。

（2）H2O的對稱振動、非對陣振動和彎曲振動對紅外和拉曼都具有活性，因為水分子為無對稱中心的分子，其振動同時使偶極矩和極化率産生變化。

（3）CO2為中心對稱分子，CO2的對稱振動不伴随偶極矩的變化，但有極化率的變化，所以這種振動無紅外活性，有拉曼活性。對于非對稱振動和彎曲振動有偶極矩的變化，所以這兩種振動有紅外活性，無拉曼活性。

32、X射線粉末衍射法物相定性分析依據

一、X射線衍射線的位置決定于晶胞的形狀和大小，即決定于各晶面的面間距，而衍射線的相對強度則決定于晶胞内原子的種類、數目及排列方式。每種晶态物質都有特定的結構，因而就有其獨特的衍射花樣。 二、當試樣中包含兩種或者兩種以上的結晶物質時，他們的衍射花樣會同時出現，而不會互相幹涉。于是當我們分析試樣的衍射花樣時，發現與某種結晶物質相同的衍射花樣時，就可斷定試樣中包含有這種結晶物質。

三、國際衍射協會制定了标準的pdf卡片。

33、物相定性分析步驟

一、 粉末衍射圖的獲得；

二、衍射線d值的測定；

三、衍射線相對強度的測定；

四、查閱索引；

五、核對卡片。

34、如何提高顯微鏡分辨本領，電子透鏡的分辨本領受哪些條件的限制？

由光學顯微鏡的分辨本領公式：r=0.61λ/nsinα,可知透鏡的分辨本領r值與nsinα成反比，與照明源波長成正比，r值越小，分辨本領越高。提高分辨本領，即減小r值的途徑有：（1）增加介質的折射率；（2）增大物鏡孔徑半角；（3）采用短波長的照明源

電子透鏡的分辨本領受到衍射效應、球差、色差、軸上像散等因素的影響。

35、與光學顯微鏡和透射電子顯微鏡比較掃描電鏡有哪些優點？

一、掃描電鏡制樣簡單，可以對大塊材料直接觀察；

二、場深大可以用于粗糙表面和斷口的分析；

三、放大倍數變化範圍大；

四、分辨率較高；

五、可以進行固體材料表面與界面分析；

六、可以通過電子學方法有效控制和改善圖像質量；

七、配接其他儀器可以進行其他功能的分析；

八、可使用加熱、冷卻和拉伸等樣品台進行動态試驗；

36、掃描電鏡中二次電子像為什麼比背散射電子像的分辨率更高？

二次電子像無影像，背散射電子像是有影像的；

二次電子來自試樣表面淺層，束斑直徑小，分辨率高，背散射電子來自試樣表面較深層，束斑直徑大。

37、熱分析用的參比物有何性能要求？

一、測溫範圍内不發生熱效應的物質；

二、比熱和導熱性能與試樣相近；

三、粒度與試樣相近。

38、紅外光譜振動吸收帶的類型。

特征譜帶區指紅外光譜中振動頻率在4000-1333cm-1之間的吸收譜帶。這一區域内，在不同分子中，和一個特定的基團的振動頻率基本是相同的。

指紋譜帶區指紅外光譜中振動頻率在1333-667cm-1之間的吸收譜帶。這一區域内，吸收帶數量密集複雜，每種化合物在結構上的細小差别可以區别出來。

39、闡述紅外光譜定性分析四要素

峰數：譜帶數目；峰位：吸收帶的位置；峰形：譜帶形狀；峰強：譜帶強度。

三、綜合題

就具體的測試項目，根據你所學過的現代測試技術挑選最佳的測試方法（是否能測試，是否是最精确、最快速、最經濟等）；

（1）尺寸小于5μ的礦物的形貌觀察分析；

（2）有機材料中化學鍵的分析鑒定；

（3）多晶材料的物相分析鑒定；

（4）物質的熱穩定性的測定；

（5）礦物中包裹體或玻璃氣泡中物質的鑒定分析；

（6）表面或界面元素化學狀态分析；

（7）晶界上增強相的成分分析；

（8）晶界條紋或晶體缺陷（如位錯、層錯等）的觀察分析；

（9）納米材料的微結構分析；

（10材料的斷口形貌觀察

1，尺寸小于5μm的礦物的形貌觀察分析——掃描電鏡

掃描電鏡的試樣為塊狀或粉末顆粒，具有相當的分辨率，一般為3~6nm，最高可達2nm。

2， 有機材料中化學鍵的分析鑒定——紅外光譜分析

紅外光譜法主要可以用作分子結構的基礎研究和物質化學組成（物相）的分析。其中，紅外光譜法作分子結構的研究可以測定分子的鍵長、鍵角大小，并判斷分子的立體結構

3，多晶材料的物相分析——X射線物相分析（XRD）

粉末照相法（粉末法或粉晶法）和衍射儀法可用來進行物相定性、定量分析，測定晶體結構，晶粒大小及應力狀态，還可以用來精密測定晶格常熟等。

4， 相變溫度的測定——差熱分析（DTA）

差熱分析方法能教精确地測定和記錄一些物質在加熱過程中發生地失水、分解、相變、氧化還原、升華、熔融、晶格破壞、和重建，以及物質間的相互作用等一系列的物理化學現象，并借以判定物質的組成及反應機理。

5， 礦物中包裹體或玻璃氣泡中物質的鑒定——電子探針X射線顯微分析/拉曼光譜

拉曼光譜可以用很低的頻率進行測量，特别是可以測定水溶液樣品，固體粉末樣品不必要特殊制樣處理。

電子探針X射線顯微分析（EPMA）特别适用于分析試樣中微小區域的化學成分，是研究材料組織結構和元素分布狀态的極為有用的分析方法。

6， 表面或界面元素化學狀态分析——X射線光電子能譜分析（XPS）

光電子能譜可以測定固液、氣體樣本，它測定的主要是物質表面的信息（0.5~5nm），光電子能譜儀在元素的定性分析上有特殊優點，它可以測定除氫以外的全部元素，對物質的狀态沒有選擇，樣品需要量很少，可少至10-8g，而靈敏度可高達10-18g，相對精度有1%

7， 晶界上增強相得成分——電子探針

電子探針X射線顯微分析（EPMA）特别适用于分析試樣中微小區域的化學成分，是研究材料組織結構和元素分布狀态的極為有用的分析方法。

8， 晶界條紋或晶體缺陷的觀察分析——透射電鏡

9， 材料的微結構分析——透射電鏡

透射電鏡（TEM）是一種高分辨率、高放大倍數的顯微鏡，是觀察和分析材料的形貌、組織和結構的有效工具。透射電鏡可以透過物質，根據電子強度分布與所觀察試樣區的形貌、組織和結構來對應來顯示試樣的形貌、組織和結構

10， 材料的斷口形貌觀察——掃描電鏡

掃描電鏡場深大，三百倍于光學顯微鏡，适用于粗糙表面和斷口的分析觀察

11， 材料的晶格條紋像的觀察——透射電鏡， 參考（8）（9）說明

解：對應的衍射角為60°，則θ=30°

對于二級衍射，2d100sinθ=2λ d100=2d200 求得：λ=0.1760nm

對于一級衍射，2d100sinθ=nλ 即n≤2d100/λ=4

即該晶體一級衍射網面能産生4條衍射線。

對立方晶系，a=b=c，d100=a/(12 02 02) 1/2，a=d100=2d200=0.3520nm

四、計算題

1、Lu2O3，立方晶系，已知a=1.0390nm，問用Co靶的Kα=0.17980nm照射，（400）面網組能産生幾條衍射線？

2、某立方晶系晶體的某一面網的二級衍射對應的d200=0.1760nm，對應的衍射角為60°，求該晶體的d100一級衍射面網能産生幾條衍射線以及該晶體的晶胞參數。

解：對應的衍射角為60°，則θ=30°

對于二級衍射，2d100sinθ=2λ d100=2d200 求得：λ=0.1760nm

對于一級衍射，2d100sinθ=nλ 即n≤2d100/λ=4

即該晶體一級衍射網面能産生4條衍射線。

對立方晶系，a=b=c，d100=a/(12 02 02) 1/2，a=d100=2d200=0.3520nm

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