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spc統計過程控制流程圖

圖文 更新时间:2024-09-28 06:22:11

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spc統計過程控制流程圖(統計過程及反應計劃)1

spc統計過程控制流程圖

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統計過程控制及反應計劃

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A/0

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統計過程控制及反應計劃

1.目的

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A/0

文件名稱

統計過程控制及反應計劃

4.2.2 所測量取得的數據處于穩定狀态下計算該管理項目的CPk值,判斷其過程能力是否達到基本要求。

4.2.3 如CPk達到要求将其要求控制界限的控制圖交予生産現場進行控制;如CPk達不到要求時,要求調整後在重新抽樣做分析用控制圖。

4.2.4 知會生産部或研發部失控的情況。

4.3 品質統計人員

4.3.1 根據開發部給定的上下控制界限的過程控制圖進行打點繪圖。

4.3.2 當控制圖反映出該管理項目達不到穩定狀态時,及時報告生産部應和研發部一起判斷缺陷或采取适當的糾正和預防措施使工序恢複控制,并跟進整改效果。

4.4 品質部負責對統計過程控制作業進行指導、檢查、跟蹤及驗證。

5.工作程序

5.1 均值和極差控制圖(Xbar-R)

5.1.1 控制圖的準備

5.1.1.1 建立适用于實施的工作環境

5.1.1.2 定義過程

5.1.1.3确定作圖的特性

  1. 顧客的要求;
  2. 當前的潛在的問題區域;
  3. 特性之間的相互關系;
  4. 定義測量系統;
  5. 是不必要的偏差最小化。

5.1.2 均值和極差圖繪制步驟(Xbar-R圖)

5.1.2.1 收集數據

A. 選擇子組大小、頻率和數據;

B. 建立控制圖及記錄原始數據;

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文件名稱

統計過程控制及反應計劃

  1. 計算每個子組的均值(X)和極差(R)
  1. 選擇控制圖的刻度;
  2. 将均值和極差畫在控制圖上。

5.1.2.2 計算控制界限

A. 計算平均極差(R)及過程平均值(X);

注:K為子組的數量,R1和X1即為第一個子組的極差和均值,R2和X2為第二個子組的極差和均值,等等。

  1. 計算控制界限

UCLR=D4 LCLR=D3

UCLX= A2 LCLX=-A2

式中:D4、D3、A2為常數,它們随樣本容量的不同而不同,詳情見下表:

n

2

3

4

5

6

7

8

9

10

D4

3.27

2.57

2.28

2.11

2.00

1.92

1.86

1.82

1.78

D3

/

/

/

/

/

0.08

0.14

0.18

0.22

A2

1.88

1.02

0.73

0.58

0.48

0.42

0.37

0.34

0.31

  1. 在控制圖上做出平均值和極差值控制線。

5.1.2.3 過程控制解釋

A. 分析極差圖上的數據點;

--超出控制界限的點; --連續7點位于平均值的一側;

--連續7點上升或下降; --其它明顯的非随機圖形。

  1. 識别并标注特殊原因(極差圖);
  2. 重新計算控制界限(極差圖);
  3. 分析均值圖上的數據點;

--超出控制界限的點 --連續7點位于平均值的一側

--連續7點上升或下降 --其他明顯的非随機圖形

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版本

A/0

文件名稱

統計過程控制及反應計劃

  1. 識别并标注特殊原因(均值圖);
  2. 重新計算控制界限(均值圖);

5.1.2.4 過程能力解釋

A. 計算過程的标準偏差;

式中:R為子組極差的均值(在極差受控時),d2為樣本容量變化的常熟。見表:

n

2

3

4

5

6

7

8

9

10

d2

1.13

1.69

2.06

2.33

2.53

2.70

2.85

2.97

3.08

  1. 計算過程能力;

(雙側規格下)

(隻有上限要求時)

(隻有下限要求時)

(雙側規則下)

其中:;;

  1. 過程能力理解

CPK>1.67 該過程能滿足顧客的要求,批準後,開始生産并按照已批準的控制計劃進行。

1.33≤CPK≤1.67 該過程可能不滿足顧客要求,生産件批準後,開始生産就對質量/重要特性加以重視,直到實際的CPK>1.67為止。

CPK<1.33 過程沒有達到滿足顧客要求的标準,必須優先進行過程改進并形成糾正措施計劃文件。

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統計過程控制及反應計劃

5.2 不合格品數的nP圖

5.2.1 收集數據

5.2.1.1 選擇子組的容量、頻率及數量(子組容量必須相等)

5.2.1.2 選擇控制圖的坐标刻度

5.2.1.3 将不合格品率繪制在控制圖上

5.2.2計算控制界限

5.2.2.1 計算過程平均不合格品數(nP)

式中:np1,np2······為K個子組中的不合格數。

5.2.2.2計算上、下控制界限

UCLnp=np 3np(1-p),

(1-p)

5.2.2.3 劃線并标注

5.3 過程控制解釋

5.3.1 分子數據點,找出不穩定的證據。

a. 超出控制限的點;

b. 連續7點位于平均值的一側;

C. 連續7點上升或下降;

d. 其它明顯的非随機圖形;

e. 重新計算控制限。

5.4 過程能力解釋

5.4.1 計算過程能力

5.4.1.1 對于nP圖,過程能力是通過過程平均不合格品率來表示,應使用曆史數據,但應剔除與特殊原因有關的數據點。

5.4.1.2 當正式研究過程能力時,應使用新的數據,最好是25個或更多子組,且所有的點都受統計控制。

5.4.2 繪制并分析修改後的過程控制圖。

5.5 統計要求

5.5.1作分析用控制圖,其抽樣組數應取20組數據,樣本大小一般為5。

5.5.2 分析過程非穩定狀态應及時采取糾正措施,再重新抽樣分析,過程穩定狀态才計算CPK值。

5.5.3 關鍵工序作業人員隻需按給定值的上、下控制界限進行描點,控制生産過程穩定狀況。

5.5.4 産品特殊特性項出現改變(含設備、工藝等)時,需再次進行作分析控制圖,作業人員再次按給定的上、下控制界限進行描點,控制生産過程穩定狀況。

5.5.5 新産品型号上馬調試應對重要管理項目進行計算CPk。

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文件名稱

統計過程控制及反應計劃

  1. 相關文件
  2. 相關記錄
  • 均值與極差圖(X-R)np控制圖。

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