概述
分類和結構
數顯外徑千分尺
工作原理
運用螺旋副傳動原理,借助測微螺杆與螺母配合,将螺杆的回轉運動變為直線運動,從固定套管和微分筒上讀出長度尺寸。
讀數
讀數原理:微分筒讀數以固定套管的縱刻線為基準線,縱刻線上下有50個分度,每個分度為0.5mm。微分筒圓周刻有50個等分,測微螺杆的螺距為0.5mm, 微分筒旋轉一周。微分螺杆移動0.5mm,微分筒旋轉一個分度時(1/50轉)測微螺杆移動0.01mm。
讀數舉例:
校準和技術要求
3、4等量塊(專用量塊)
平面平晶、平行平晶、刀口尺
1、外觀和各部分相互作用:目力觀察和手動試驗
2、測微螺杆的軸向竄動和徑向擺動:手感檢查
必要時使用杠杆千分尺檢查( 要求≤0.01mm)
3、測力:用分度值不大于0.2N的專用測力計
測力應為(5~10)N
4、微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離:
用0.4mm的塞尺置于固定套管上比較測量( ≤ 0.4mm )
5、微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線的相對距離:
當測量下限調整正确後,讀取微分筒的零刻線與固定套管縱 向刻線右邊緣的偏移量
要求:壓線≤0.05mm 離線≤0.1mm
6、測量面的平面度:用平面平晶以技術光波幹涉法
對于後續校準的可用刀口尺以光隙法
要求: 外徑千分尺 ≤0.6um
壁厚、闆厚千分尺 ≤1.5um
數顯外徑千分尺≤0.3um
7、數顯外徑千分尺的示值重複性:
在相同條件下重複測量5次分别讀數,以最大與最小讀數差确定
要求: ≤1um
8、兩測量面的平行度:測量上限至100mm用平行平晶檢查,或可用量塊檢查。
采用量塊時,其4塊尺寸差為1/4螺距,每個量塊以其同一部位放入下圖所示的測量面間的4個位置上分别讀數,以四組差值中最大值來确定。
要求:見下表
千分尺示值的最大允許誤差及兩測量面的平行度
9、示值誤差:
外徑(壁厚、闆厚)用5等量塊,數顯用4等量塊校準,或用千分尺專用量塊。
在測量範圍内均勻分布5點放入量塊直接測量。
(A 5.12, A 10.24, A 15.36, A 21.50, A 25.00)
A—測量下限值
示值誤差要求見上表
10、數顯千分尺的細分誤差:在任意位置上,沿測量方向轉動微分筒,每間隔0.04mm檢查一次,共計12次,分别讀出各受檢點數顯值與微分筒讀數值之差,以其最大差值确定。
要求≤±2um
11、校對用量杆(尺寸及變動量):
外徑:在光學計或測長機上用4等量塊以比較法
數顯:在光學計或測長機上用3等量塊以比較法
尺寸:如圖所示5點中最大偏差
變動量:如圖所示5點中最大與最小尺寸之差
千分尺校對用量杆的尺寸偏差和變動量
正确使用和注意事項
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