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sem薄弱怎麼調整

生活 更新时间:2024-07-01 00:02:26

sem薄弱怎麼調整?Q1、SEM拍樣品截面需注意哪些?如何制樣?,現在小編就來說說關于sem薄弱怎麼調整?下面内容希望能幫助到你,我們來一起看看吧!

sem薄弱怎麼調整(SEM小知識)1

sem薄弱怎麼調整

Q1、SEM拍樣品截面需注意哪些?如何制樣?

對于脆性薄片如矽片、玻璃鍍膜片等可直接掰斷或敲斷;

對于高分子聚合物,有一定塑性和韌性,該法則不可取,可使用以下方法:

方法1:沖擊斷裂,該法得到斷面粗糙度比較大;

方法2:液氮脆斷,将樣品在液氮下脆化處理後瞬間折斷,可得到較為光滑平整的斷面;

方法3:離子切割,利用離子束抛光儀,通過離子束轟擊樣品截面,去除墨痕、碎屑和加工應變層;

方法4:冷凍超薄切片,超薄切片得到的樣品,更接近樣品固有狀态結構,适用于韌性很強且硬度很大的樣品,如聚丙烯材料。

Q2、SEM拍攝的顆粒的邊界不清晰,比較渾濁,是什麼原因呢?

1)首先可能是樣品的導電性的問題;

2)其次可能是樣品穩定性的問題,若樣品不穩定,在高壓下會導緻顆粒分解,邊界不清等問題;

3)最後可能是SEM設備分辨率的問題,此時可以試一下高分辨的SEM。

Q3、SEM和TEM的EDS區别?

不管透射電鏡還是掃描電鏡,EDS的原理是一樣的,隻是透射電鏡的電子束能聚的更小,探測的區域也更小,一般能到幾納米的量級,而掃描則沒這麼好(不過好的場發射掃描電鏡也能夠達到10納米)。如果選擇的倍數差不多,不同的EDS數據肯定具有可比性。如果倍數差太多,就是大塊區域和微區的差别了。當然如果材料很均勻,也就沒關系了。

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