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fdc6333c電源芯片引腳功能

生活 更新时间:2024-11-29 12:33:20

1、産品簡介:對QFN7x7-18L封裝的的IPM功率IC進行老化測試。

2、适配IC封裝規格:QFN18pin,最小pitch0.65mm,尺寸7x7x0.75。

3、性能要求:-55℃~155℃持續老化測試。

4、老化測試座技術指标:

①結構:翻蓋式;

②外殼材質:鋁合金;

③接觸方式及材質:雙頭探針,铍銅鍍金;

④核心部件材質:FR4;

⑤額定電流:1A;

⑥操作壓力:30g、PIN越多壓力越大;

⑦接觸電阻:<100mΩ;

⑧環境溫度:-55℃~155℃;

fdc6333c電源芯片引腳功能(CS5755SDQ半橋IPM功率模塊老化座)1

機械壽命:100000;

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