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硬盤的邏輯壞道是如何産生的

知識 更新时间:2024-12-26 04:52:19

  硬盤壞道分兩種:物理壞道和邏輯壞道。物理壞道就是硬盤在使用過程中,由于磕碰、溫度過高、硬盤老化等等原因,使盤片表面發生損壞導緻的壞道;邏輯壞道則是硬盤在寫入數據時受到意外幹擾或者程序的誤操作,導緻硬盤磁道上的ECC校驗信息和磁道上的數據對不上号導緻的。針對邏輯壞道可以利用Windows自帶的Scandisk命令進行修複,以保護硬盤中的數據。

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