查看X射線熒光（XRF）分析儀器相關的内容時，您可能會留意到文章裡面經常會出現很多的英文略縮術語。您可以利用這份快速指南，來了解這些您經常會在網站上看到或者在工作中聽到的略縮術語。

XRF

XRF = X射線熒光。一種快速的無損檢測方法。用來測量材料的化學元素組成。類似的略縮術語有:

●EDXRF = 能量色散型X射線熒光光譜法。快速、經濟的X射線熒光技術，普遍被運用在手持式的X射線熒光分析儀中。

●WDXRF = 波長色散型X射線熒光光譜法。實驗室用的X射線熒光技術，相比較于利用能量色散型X射線熒光光譜法的分析儀，其價格更加昂貴。

●HHXRF = 手持式X射線熒光分析儀

●pXRF = 便攜式X射線熒光分析儀

探測器

手持式X射線熒光分析儀一般使用兩種類型的探測器：

●PIN = 矽PIN二極管探測器。相較SDD探測器，是一種較為早期、便宜、探測效率慢的一種探測器。

●SDD =矽漂移探測器。一種新型探測器，相較PIN探測器，計數率為其的10倍。

元素

LE =輕元素。輕元素被激發時發射的X射線能量很低，所以難以被我們的探測器接收到。

在判定LE的含義時需要結合上下文的内容。因為我們也經常将手持式XRF分析儀能夠測量到的一些輕元素也稱作為LE，包括：

鎂 （Mg）、鋁 （Al）、矽 （Si）、磷 （P）、硫 （S）、氯 （Cl）、鉀 （K）、鈣 （Ca）

上述輕元素隻有利用SDD探測器才能檢測。

在很多情況下， LE 也代表在化學元素周期表中原子序數低的元素， 這些元素我們無法利用手持式XRF分析儀進行檢測，比如鈉（Na）， 碳 （C）， 氫 （H），以及氧 （O）。

氫（H）到鈉（Na）: 這些LE （藍色區域内的） 我們無法使用手持式XRF分析儀探測到。鎂 （Mg） 到钪 （Sc）: 這些元素 （黃色區域内） 無法用PIN探測器檢測—需要使用搭載了SDD探測器的手持式XRF分析儀。

算法

FP =基本參數法。一種常用于X射線熒光技術的計算/校準的算法。它根據原子的基本物理特性，将不同的元素之間的幹擾效應也納入了算法中。當分析一個具有高密度的樣本時（比如大多數的金屬材料），這會是一個非常有效的方法。

CN =康普頓算法。一種相對簡單的計算/校準的算法，适用于低密度樣本的分析。

可靠性鑒定

PMI = 材料可靠性鑒定。用戶在需要判定一些設備中的重要組成部件是否由某種特定的合金組成的時候需要對這些設備進行PMI判定， 比如：水管、閥門、焊接處、以及壓力容器。對一些特定的化學元素的含量進行檢測和匹配，快速的驗證金屬牌号。

分析檢測

LOD = 檢出限。LOD表示最低可以探測到的某種元素的含量。在含量非常低的時候，設備會無法判定該元素的存在、或者給出其含量的數值。

LOQ = 定量限。LOQ大約是LOD的3倍，元素含量在這個限值以上時，給出的檢測結果的置信度很高。

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