有源晶體振蕩器和無源晶體振蕩器統稱為晶體振蕩器，屬于同一電子元件，但有源晶體振蕩器和無源晶體振蕩器在各方面存在較大差異。首先，形狀不同。有源晶體振蕩器有凹槽，通常沒有無源晶體。前者可以在沒有外部電源的情況下振蕩，而後者則不能。此外，還有一套測量方法來檢測有源晶體振動是好是壞，主要包括測量電阻法、測量電容量法和測試電路。

晶體振動通常分為兩種類型：無源晶體振動和有源晶體振動。無源晶體振動通常被稱為crystal(晶體)，而有源晶體振動稱為oscillator(振蕩器)。

有源晶振測試-來源于網絡-圖侵删

有源晶體振蕩器是一種完整的諧振振蕩器，利用石英晶體的壓電效應，因此有源晶體振蕩器需要電源。當我們完成有源晶體振蕩器電路時，它可以主動産生振蕩頻率，并提供高精度的頻率基準。信号質量優于無源信号。

無源晶體振蕩本身不能振蕩。它需要芯片中的振蕩電路一起工作。它允許不同的電壓，但信号質量和精度比有源晶體振蕩差。無源晶振比有源晶振便宜得多。無源晶體振動的兩側通常有兩個電容，一般選擇10個電容pF~40pF之間，如果手冊中有特定電容尺寸的要求，則應根據要求選擇電容。如果沒有要求，我們将使用20pF是比較好的選擇，這是一個長期的經驗值，具有非常普遍的适用性。

有源晶振通常有四個引腳，VCC，GND，晶振輸出引腳和未使用的懸挂引腳。無源晶體振動有兩個或三個引腳，如果是三個引腳，中間引腳是晶體振動的外殼，使用時接收到GND，兩側的引腳是晶體的兩個引腳，兩個引腳的作用是相同的，就像電阻的兩個引腳一樣，沒有正負之分。對于無源晶體振動，我們可以在單片機上連接兩個晶體振動引腳，而有源晶體振動隻連接到單片機晶體振動的輸入引腳，不需要連接輸出引腳。

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電路匹配：

振蕩電路是一種振蕩電流，可以随周期産生大小和方向的變化。振蕩電流電路稱為振蕩電路。

激勵電平：

調整電路中的串聯電阻Rd調整振蕩電路對晶體振蕩輸出的激勵電平。

負阻抗過大，增加Rd，增加電路的整體阻抗；負阻抗太小，降低Rd，使整個電路阻抗變小。在晶片中應控制負阻抗ESR3~20倍之間。

焊接：

由于焊接溫度過高或時間過長，晶體振動内部電氣性能指标異常，導緻無振動。晶振分為手工焊接和機器焊接(波峰焊和回流焊)。手工焊接溫度控制在350℃/3s或者260℃/5s。

其他因素：

通過交叉試驗，可以判斷晶體是否損壞。如果是個别損壞，應考慮IC驅動功率是否設置好；如果是批量損壞，應考慮驅動功率是否過大。若在電路調試階段發現少量晶體無振動現象，則可能存在晶體批次質量問題。如果晶體質量有問題，建議交給供應商進行質量分析。

從晶體振蕩器測量的角度來看，該計算方法不适用于非線性晶體振蕩器的測試，因為測量程度取決于晶體振蕩器的特性，而且差異很大。如果有其他适用的測試方法，則應放棄該方法.晶振是一種頻率元件，顧名思義，我們可以想象頻率是其中的主導因素.作為一名頻率元件推銷員，有時會遇到一些客戶不知道需要什麼頻率，或者不知道頻率是多少.

晶體振動還有一個問題，那就是測試。電路設計好之後，如何測試晶振電路是否滿足設計要求呢？

在鴻怡電子測試座的實際應用中，結合實際情況，具體來說，晶體本身的原因是：晶體碎片、寄生、DLD阻抗過大，頻率不好，晶體牽引力不足或過大。

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引腳間距：1.27mm

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2、2520貼片晶振探針老化測試座socket

PIN腳：4pin

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3、3225晶振翻蓋探針頻率socket測試座

PIN腳：4pin

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4、5032晶振探針老化測試座socket

PIN腳：4pin

尺寸：5.0×3.2mm

5、7050貼片晶振探針老化socket測試座

PIN腳：4pin

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