tft每日頭條

 > 圖文

 > 冷場發射掃描電鏡原理

冷場發射掃描電鏡原理

圖文 更新时间:2025-03-13 20:10:45

場發射掃描電鏡(FESEM)是電子顯微鏡的一種,其原理是利用二次電子或背散射電子成像,對樣品表面放大一定的倍數進行形貌觀察,同時利用電子激發出樣品表面的特征X射線來對微區的成分進行定性定量分析,是我們材料研究分析中一雙亮麗的“眼睛”。

掃描電鏡按照電子槍分類可以分為鎢(W)燈絲、六硼化镧(LaB6)燈絲、場發射 (Field Emission)三種,場發射掃描電鏡相比于鎢燈絲、六硼化镧,具有電子束斑小、高分辨率、穩定性好等特點。

冷場發射掃描電鏡原理(場發射掃描電鏡介紹及案例分享)1

1、金屬、陶瓷、高分子、礦物、半導體、紙張、化工産品的顯微形貌觀察及材料的晶體結構、相組織分析;

2、各種材料微區化學成分的定性定量檢測;

3、粉末、微粒、納米樣品形态觀察和粒度測定;

4、機械零件與工業産品的失效分析;

5、鍍層厚度、成分與質量測定;

6、生物、醫學和農業等領域。

冷場發射掃描電鏡原理(場發射掃描電鏡介紹及案例分享)2

案例1:碳納米管,石墨SEM形貌觀察;

冷場發射掃描電鏡原理(場發射掃描電鏡介紹及案例分享)3

案例2:LED熒光填充物進行成分分析;

冷場發射掃描電鏡原理(場發射掃描電鏡介紹及案例分享)4

案例3:粉末樣品的粒度分析測量;

冷場發射掃描電鏡原理(場發射掃描電鏡介紹及案例分享)5

案例4:金屬鍍層厚度測量;

冷場發射掃描電鏡原理(場發射掃描電鏡介紹及案例分享)6

案例5:金屬間化合物觀察與測量;

冷場發射掃描電鏡原理(場發射掃描電鏡介紹及案例分享)7

案例6:錫須觀察;

冷場發射掃描電鏡原理(場發射掃描電鏡介紹及案例分享)8

案例7:斷口分析;

冷場發射掃描電鏡原理(場發射掃描電鏡介紹及案例分享)9

案例8:PCB失效分析(如金,鎳面形貌及腐蝕深度)。

冷場發射掃描電鏡原理(場發射掃描電鏡介紹及案例分享)10

冷場發射掃描電鏡原理(場發射掃描電鏡介紹及案例分享)11

冷場發射掃描電鏡原理(場發射掃描電鏡介紹及案例分享)12

1、SEM的二次電子成像分辨率 1.0nm;

2、背散射電子成像分辨率 2.0nm;

3、EDS成分分析的元素範圍Be(4)~Cf(98);

4、分析深度約1μm;

5、檢測下限約1%;

6、空間分辨率約1μm。

863檢測本着質量為先,信譽為重,管理為本,服務為誠的工作原則為您的産品問題排憂解難。

,

更多精彩资讯请关注tft每日頭條,我们将持续为您更新最新资讯!

查看全部

相关圖文资讯推荐

热门圖文资讯推荐

网友关注

Copyright 2023-2025 - www.tftnews.com All Rights Reserved