用光學平晶的工作面體現理想平面,直接以幹涉條紋的彎曲程度确定被測表面的平面度誤差值。主要用于測量小平面,如量規的工作面和千分尺測頭測量面的平面度誤差。
平面是由直線組成的,因此直線度測量中直尺法、光學準直法、光學自準直法、重力法等也适用于測量平面度誤差。測量平面度時,先測出若幹截面的直線度。
更多精彩资讯请关注tft每日頭條,我们将持续为您更新最新资讯!