在不滿載負荷和無外力損傷的情況下,手機cpu壽命20年或者更長,一般來說手機CPU的平均滿負荷有效壽命是10萬小時,相當于11年,影響芯片壽命的因素主要在于芯片内部晶體管頻繁的切換導通和關斷的狀态,因此帶來電子流對器件的沖擊,沖擊導緻器件在物理上出現變形損壞,或者是大電流通路長期滿負荷工作,發熱線路老化,電阻增大導緻載流能力減弱,于是手機cpu芯片就會損壞。
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