如何選擇ESD保護電容?
ESD (靜電放電)是指靜電電荷的快速轉移。當一個帶有正電荷的物體與另一個帶有負電荷的物體相接觸時,它們就要平衡其電子。電子從一個物體沖向另一個物體的過程就是ESD。
ESD可被視為電子電路及其元件的死敵。電荷向電子元件的轉移時很容易對元件造成損壞,從而使它們失去作用。可惜的是,大多數情況下當你發現時為時已晚。
這時就輪到ESD保護電容出馬了。将ESD電容放入電路中,可吸收電路可能接觸的有害ESD。有關ESD電容的相關知識,我們推薦一個精彩帖子——什麼是ESD電容?
該帖重點讨論了如何選擇ESD保護電容。雖然還有許多方法可以保護電路免受ESD的影響,但是電容是一種性價比較高的解決方案。
選擇ESD保護電容時,應關注3個主要參數:
1、被測器件
DUT效應是指在ESD試驗電路中,電容兩端的有效合成電壓。該電路如圖1所示。
圖 1:ESD試驗電路
Vx= 合成電壓Cx=DUT (被測電容)Co= 充電電容Vo= 源電壓
該方程式表明了Vx和Cx之間的關系。如果使Vo和Co保持恒定,則Vx和Cx成反比。這表示,選擇的Cx值越高,Vx越小。
以2000pF電容(Cx)的6kV(V0)ESD要求為例。同時還假定我們采用的是使用Co=150pF的AEC-Q200試驗方法。DUT效應關系表明,施加6kV電壓時,Cx僅顯示418.6V(Vx)。以下為數學計算步驟。
2、擊穿電壓
擊穿電壓是一種用于量化電容的電壓等級強度的方法。你可以采用以下方法來确定電容能夠處理的最大持續電壓:以不斷增大的速率将直流電壓加到電容,直到部件故障。因此,我們應該選擇擊穿電壓大于Vx的電容。
3、直流偏壓
在給陶瓷電容印加直流電壓時,有效電容量和标稱電容量可能會有所不同。直流偏壓采用相針對标稱值的電容量變化百分比表示。下面是計算直流偏壓的方程式。
介質材料在直流偏壓中起着重要作用。不同的電容類别也有一定的影響。對于I類電容,其變化相對較小,而對于II類電容,其電容量會先略微增加,然後在接近額定電容量後穩定下降。通常對于II類電容而言,直流偏壓介于-10%到-70%之間。随着施加電壓增加,有效電容量下降。
單獨的ESD試驗額定值并不是選擇電容值的最佳方法。如果同時關注DUT、擊穿電壓和直流偏壓影響,則可以防止保護電路的過度設計和設計不足的情況。
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