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sat顯微鏡

科技 更新时间:2025-04-29 16:14:59

sat顯微鏡(掃描聲學顯微鏡)1

問:超聲波掃描顯微鏡SAT與X-RAY有什麼區别?

答:在同一實驗室内,SAT與X-ray是相互補充的方法手段。它們主要的區别在于展現樣品的特性不同。

X-ray能觀察樣品的内部,主要是基于材料密度的差異。X-ray對于分層的空氣不是非常的敏感,裂紋和虛焊難以被觀察到的,除非材料有足夠的物理上的分離。

X-ray射線成像操作采用的是穿透模式,得到整個樣品厚度的一個合成圖像。較長的檢查期間内,如果半導體設備放置在離X-ray射線源比較近的地方可能會産生損壞或随機的電子錯誤。

由于空氣層能阻斷超聲波的傳輸,SAT對于内部存在的空氣層非常敏感。

基于反射回波模式産生的圖像隻需要通過樣品的表面(反射掃描模式),确定焊接層、粘接層、填充層、塗鍍層、結合層的完整是SAT獨特的性能。

同時,SAT使用的超聲波頻率是高于MHz,這個範圍的超聲波不會引起氣穴現象,對于檢測的組件沒有任何損壞。

sat顯微鏡(掃描聲學顯微鏡)2

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sat顯微鏡(掃描聲學顯微鏡)3

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