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掃描電鏡中abs.error%代表的含義是故障代碼,具體故障原因需要專業人員鑒定維修。
掃描電鏡(SEM)是1965年發明的主要用于細胞生物學研究電子顯微鏡,主要是利用二次電子信号成像來觀察樣品的表面形态,即用極狹窄的電子束去掃描樣品,通過電子束與樣品的相互作用産生各種效應,其中主要是樣品的二次電子。
二次電子能夠産生樣品表面放大的形貌像,這個像是在樣品被掃描時按時序建立起來的,即使用逐點成像的方法獲得放大像。
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