xps圖從哪些方面分析?Q:分峰軟件中 Lorentzian-Gaussian值最後固定在20%左右？？為啥我看到有的說是最後是80%，我來為大家科普一下關于xps圖從哪些方面分析?下面希望有你要的答案，我們一起來看看吧!

xps圖從哪些方面分析

Q:分峰軟件中 Lorentzian-Gaussian值最後固定在20%左右？？為啥我看到有的說是最後是80%

1.Lorentzian-Gaussian值最後固定在20%左右，說80%的Gaussian-Lorentzian。

Q：所測窄譜元素，含量比為啥跟預期不符？

1，樣品表面被污染

2，樣品分布不均勻

3，該元素不分布在樣品表面，即不在XPS所測微區範圍内

4，XPS是半定量分析，和元素的實際含量會有出入。

PS：XPS是一種典型的表面分析手段，用于定性及半定量分析，測試得到的僅是樣品表面幾百甚至幾十um大小，幾個nm深度的樣品信息，不代表樣品整體性質。

Q：樣品不含有這個元素，為什麼全譜測出這個元素了（除CNO）？

1，樣品理論上應該不含有，但是樣品在處理過程中是有引入該元素的成分，在後續的處理過程沒有完 全處理幹淨

2，待測試樣品是在某種基底上測試的，但待測試樣品量較少，測試到了基底

3，被同一批次的其他樣品，或者有易揮發組分（如S、F），或者進行刻蝕後，污染了該樣品表面。

Q: 一個堿熔渣的XPS，想分析其中是否含有 3價的Ti，如果有，和 4價钛的大緻比例為多少，通過學習分峰後發現與标準Ti的鍵能不同，不知道是否處理有誤？

1. C的标定通常是284.6 eV。首先 應該拟合C 1s峰，然後看其峰值與标定值（284.6 eV）相差多少；拟合Ti 2p峰前，應相應減去或加上上述差值，然後再拟合。拟合方法就不贅述了。另外，有沒有Ti3 不好說，要根據你的實驗情況，給你的拟合後的峰，有Ti3 ，含量也可以從峰面積中讀出，但是并不一定準确。應該還有個對比實驗，因為你的負移太大了。Ti4 峰值都對不上。

Q: XPS的原始TXT數據用什麼辦法轉化成VMS格式的文件，以便用casaXPS軟件打開。

1.把後綴TXT改成TSF。然後再CASAXPS選擇convert（不是點open），就會自動生成一個VMS文件。

Q:在進行XPS分峰時所說的固定半高寬的意思是：（1） 同種元素不同形态（即不管是什麼價态，不管是在1/2還是在3/2軌道上的）的半高寬都相同？（2）隻需同種形态的1/2,3/2上的半高寬相同（即不同價态的可以不相同）？請問是上述的哪種含義?

1.半峰寬是分辨率的一種表現方式，XPS半峰寬受X射線本身的色差，XPS峰的本征展寬，還有電子能量分析器的分辨力影響。XPS峰的本征展寬是由于能級躍遷有能量-時間不确定原理制約，所以能級本身會有一定寬度。嚴格來說，1/2和3/2的能級不一樣，所以展寬也會不同，但是區别非常小，小到XPS根本無法分辨，所以對于XPS分峰，相同元素的不同價态以及自旋-軌道分裂的雙峰都應保證相同的半峰寬。但對于實際情況來說，固體表面是非常複雜的，比如氧化物，表面的氧缺陷導緻表面金屬離子價态并不呈現一個固定值，所以說在分峰時往往做統一處理，這時就不保持半峰寬一緻，原因是這個峰裡包含了許多價态。再比如，金屬表面和體相狀态是完全不同的，而金屬表面又會有各種缺陷，有edge、corner、kink等各種結構，從理論上來說，所有不同狀态的元素的相同能級都應有相同的半峰寬，但由于這種複雜性的存在，往往做統一處理，這時就不用保持半峰寬一緻了。總而言之，分峰時具體問題要具體分析，如果分出的峰是一種作統一處理的峰，當然不用保證與其他峰的半峰寬一緻，但如果分出的峰是具有明确特征和價态的峰，這類峰如果是相同元素相同能級，就需要保持半峰寬相同。

Q：樣品中，某元素窄譜曲線不光滑，峰刺較多，或沒有測出該元素？

1.元素含量比較低。

2.樣品分布不均勻，所測試的光斑範圍内，該元素含量較少。

3.該元素不分布在樣品表面，即不在XPS所測微區範圍内。

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