ESD以極高的強度很迅速地發生,通常将産生足夠的熱量熔化半導體芯片的内部電路,在電子顯微鏡下外表象向外吹出的小子彈孔,引起即時的和不可逆轉的損壞。更加嚴重的是,這種危害隻有十分之一的情況壞到引起在最後測試的整個元件失效。其它90%的情況,ESD損壞隻引起部分的降級-意味着損壞的元件可毫無察覺地通過最後測試,而隻在發貨到顧客之後出現過早的現場失效。其結果是最損聲譽的,對一個制造商糾正任何制造缺陷最付代價的地方。控制ESD的主要困難是,它是不可見的,但又能達到損壞電子元件的地步。産生可以聽見嘀哒一聲的放電需要累積大約2000伏的相當較大的電荷,而3000伏可以感覺小的電擊,5000伏可以看見火花。
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