故障現象 1 : 放入鍋具電磁爐檢測不到鍋具而不啟動,指示燈閃亮,每隔3秒發出“嘟”一聲短音(數顯型機種顯示E1), 連續1分鐘後轉入待機。

分 析 : 根椐報警信息,此為CPU判定為加熱鍋具過小(直經小于8cm)或無鍋放入或鍋具材質不符而不加熱,并作出相應報知。根據電路原理,電磁爐啟動時, CPU先從第 13腳輸出試探PWM信号電壓,該信号經過PWM脈寬調控電路轉換為控制振蕩脈寬輸出的電壓加至G點,振蕩電路輸出的試探信号電壓再加至IGBT推動電路,通過該電路将試探信号電壓轉換為足己另IGBT工作的試探信号電壓,另主回路産生試探工作電流,當主回路有試探工作電流流過互感器CT初級時,CT次級随即産生反影試探工作電流大小的電壓,該電壓通過整流濾波後送至CPU第6腳,CPU通過監測該電壓,再與 VAC電壓、VCE電壓比較,判别是否己放入适合的鍋具。

從上述過程來看,要産生足夠的反饋信号電壓另CPU判定己放入适合的鍋具而進入正常加熱狀态,關鍵條件有三個 :

一是加入Q1G極的試探信号必須足夠,通過測試Q1G極的試探電壓可判斷試探信号是否足夠(正常為間隔出現1~2.5V),而影響該信号電壓的電路有PWM脈寬調控電路、振蕩電路、IGBT推動電路。

二是互感器CT須流過足夠的試探工作電流,一般可通測試Q1是否正常可簡單判定主回路是否正常,在主回路正常及加至Q1G極的試探信号正常前提下,影響流過互感器 CT試探工作電流的因素有工作電壓和鍋具。

三是到達 CPU 第 6 腳的電壓必須足夠,影響該電壓的因素是流過互感器CT的試探工作電流及電流檢測電路。以下是有關這種故障的案例：

(1) 測 22V電壓高于24V,結果發現 Q4 擊穿。結論 :由于 Q4 擊穿,造成 22V 電壓升高,另IC2D正輸入端V9電壓升高,導至加到 IC2D 負輸入端的試探電壓無法另 IC2D 比較器翻轉,結果Q1G極無試探信号電壓,CPU 也就檢測不到反饋電壓而不發出正常加熱指令。

(2) 測Q1G極沒有試探電壓,再測V8點也沒有試探電壓, 再測G點試探電壓正常,證明 PWM脈寬調控電路正常, 再測D18正極電壓為0V(啟動時CPU應為高電平),結果發現CPU第19腳對地短路,更換CPU後恢複正常。結論 : 由于CPU第19腳對地短路,造成加至IC2C負輸入端的試探電壓通過D18被拉低, 結果Q1G極無試探信号電壓,CPU也就檢測不到反饋電壓而不發出正常加熱指令。

(3) 發現V16為0V,CPU第11腳擊穿, 更換CPU後恢複正常。結論 : 由于 CPU第11 腳擊穿, 造成振蕩電路輸出的試探信号電壓通過D17被拉低, 結果Q1G極無試探信号電壓,CPU也就檢測不到反饋電壓而不發出正常加熱指令。

(4) 測Q1G極沒有試探電壓,再測V8點也沒有試探電壓, 再測G點也沒有試探電壓,再測Q7基極試探電壓正常, 再測 Q7發射極沒有試探電壓,結果發現Q7 開路。結論 : 由于Q7開路導至沒有試探電壓加至振蕩電路, 結果Q1G極無試探信号電壓,CPU 也就檢測不到反饋電壓而不發出正常加熱指令。

(5) 測Q1G極沒有試探電壓,再測V8點也沒有試探電壓, 再測G點也沒有試探電壓,再測 Q7 基極也沒有試探電壓, 再測CPU 第 13 腳有試探電壓輸出,結果發現 C33 漏電。結論 : 由于 C33 漏電另通過 R6向 C33 充電的 PWM 脈寬電壓被拉低,導至沒有試探電壓加至振蕩電路, 結果 Q1 G 極無試探信号電壓,CPU 也就檢測不到反饋電壓而不發出正常加熱指令。

(6) 測Q1G極試探電壓偏低(推動電路正常時間隔輸出 1~2.5V), 檢查結果發現C33 漏電。結論 : 由于 C33 漏電,造成加至振蕩電路的控制電壓偏低,結果Q1G極上的平均電壓偏低,CPU因檢測到的反饋電壓不足而不發出正常加熱指令。

(7) 結果發現互感器CT次級開路。結論 : 由于互感器CT 次級開路,所以沒有反饋電壓加至電流檢測電路, CPU因檢測到的反饋電壓不足而不發出正常加熱指令。

(8) 結果發現C31漏電。結論 : 由于C31漏電,造成加至 CPU 第 6 腳的反饋電壓不足, CPU 因檢測到的反饋電壓不足而不發出正常加熱指令。

(9) 到第8步驟時發現V3為0V,結果發現R78開路。結論 : 由于 R78 開路, 另 IC2A 比較器因輸入兩端電壓反向(V4>V3),輸出 OFF,加至振蕩電路的試探電壓因 IC2A 比較器輸出OFF 而為0,振蕩電路也就沒有輸出, CPU 也就檢測不到反饋電壓而不發出正常加熱指令。

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